Wie man einen Ordnungsfilter anfragt

Die mehrfachen Ordnungen von Beugungsgittern werden in Diodenarray-Spektrometern problematisch, wenn das erfasste Spektrum mehr als eine Oktave umfasst. In diesem Fall überschneiden sich die Ordnungen und es ist daher schwierig, das erfasste Spektrum zu interpretieren. Die Lösung besteht darin, einen Ordnungsfilter unmittelbar vor dem Detektor in das Spektrometer einzubauen. In diesem technischen Hinweis wird beschrieben, wie ein kontinuierlich variabler Ordnungsfilter (Continuously Variable Order Sorting Filter, CVOSF) spezifiziert werden kann.

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Definitionen

Um den besten CVOSF für Ihr Spektrometer zu ermitteln, ist es für Delta Optical Thin Film wichtig, einige Schlüsselparameter Ihres Spektrometerdesigns zu kennen. Abbildung 1 zeigt schematisch, wie die Wellenlänge von der Strahlposition auf dem Filter für die 1., 2. und 3. Ordnung abhängt. Es ist wichtig zu beachten, dass der Bereich der Wellenlängen, die der Detektor potenziell erreichen und erfassen kann, größer sein kann als der Wellenlängenbereich, für den das Spektrometer ausgelegt ist. So können einige Detektoren beispielsweise bis zu 180 nm empfindlich sein. Selbst wenn das Spektrometer so ausgelegt ist, dass es z. B. Licht 1. Ordnung von λ1st, start = 250 nm bis λ1st, end  = 1050 nm detektieren kann, könnte auch Umgebungslicht der 2. und 3. Ordnung zwischen 180 nm und 250 nm detektiert werden. Die niedrigste nachweisbare Wellenlänge λho,start kann durch verschiedene Maßnahmen wie die UV-Absorption in einem Deckglas auf dem Detektor oder einen optischen Bandpassfilter am Eingang des Spektrometers begrenzt werden.

Figure 1: Order location diagram showing how wavelengths vs beam position for 1st, 2nd and 3rd order.

Die folgenden vier in Abbildung 1 definierten Wellenlängen erster Ordnung und ihre Positionen auf dem Filter sind entscheidend:

  • λ1st, start Die kürzeste Wellenlänge von Licht 1. Ordnung, für die das Spektrometer ausgelegt ist
  • 2xλho,start 2x die kürzeste Wellenlänge des Lichts höherer Ordnung, die der Detektor erkennen kann
  • 3xλho, start 3x die kürzeste Wellenlänge des Lichts höherer Ordnung, die der Detektor erkennen kann
  • λ1st,end Die längste Wellenlänge des Lichts 1. Ordnung, für das das Spektrometer ausgelegt ist

Positionen der Ordnungen, AOI-Bereich und Strahlpositionen

Figure 2: Definition of beam positions, Angle of Incidence (AOI), and beam spot on the CVOSF.
Figure 3: Definition of maximum and minimum AOI on the CVOSF for the wavelength λi;. AOI can have both positive and negative values as indicated on the drawing.

Um das beste CVOSF-Design für Ihr Spektrometer auszuwählen, bitten wir Sie um folgende Angaben (siehe Abbildung 1, Abbildung 2 und Abbildung 3 für Definitionen):

  • Die kürzeste und längste Wellenlänge 1. Ordnung, die auf den Detektor Ihres Spektrometers trifft
  • Die kürzeste Wellenlänge höherer Ordnung, die zurückzuweisen ist
  • Die Positionen des Hauptstrahls entlang der x-Achse auf dem Filter der folgenden vier Wellenlängen erster Ordnung: λ1st, start, 2xλho,start, 3xλho, start und λ1st,end
  • Der minimale und maximale Einfallswinkel (AOI) of λ1st, start, 2xλho,start, 3xλho, start und λ1st,end. Bitte geben Sie die AOIs so vor, dass Winkel auf gegenüberliegenden Seiten der Normale entgegengesetzte Vorzeichen haben.
  • Der Strahldurchmesser auf dem Filter von λ1st, start, 2xλho,start, 3xλho, start und λ1st,end.

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Abmessungen und Substratmaterial

Figure 4: Definition of dimensional parameters for filter

Geben Sie bitte unter Bezugnahme auf Abbildung 4 die folgenden Parameter für den Filter an. In der Regel betragen die Toleranzen ±0,1 mm. Das Standardsubstrat besteht aus UV-geeignetem Quarzglas. Bitte kontaktieren Sie uns, wenn Sie ein anderes Substratmaterial als das Standardmaterial benötigen.

Unsere Filter werden nach ISO 10110-7 auf optische Mängel geprüft und erfüllen in der Regel die folgenden Spezifikationen: 5×0,1;Lx0,06;E0,25 (5 Fehler der Klasse 0,1; lange Kratzer von maximal 0,06 mm Breite; Kantenausbrüche von maximal 0,25 mm vom Rand).

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